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Analyse ses sensibilités dans les CI Analogiques : Influence des paramètres technologiquesContexte et motivationDans la conception de circuits intégrés, la robustesse consiste à assurer que les fluctuations des différents paramètres (électriques ou technologiques) d'un circuit par rapport à leur valeur nominale ne vont pas perturber d'une manière néfaste le fonctionnement d'un circuit. Différentes méthodes de conception sont possibles. L’analyse de sensibilités est l’une des techniques présentant le plus d’intérêt. Au LIP6, un logiciel de calcul des sensibilités a notamment été développé. Au départ, ce programme n'intégrait que des circuits constitués à partir d'éléments passifs ou d'éléments actifs modélisés par leurs paramètres S ou Y. Récemment, l'introduction de composants actifs (AOP, transistors bipolaires, transistors MOS) a été réalisée. Le lien entre les fluctuations des paramètres technologiques et les paramètres électriques est assez intuitif, mais ceci ne permet pas d'établir l'influence que peuvent avoir ces paramètres sur les performances du circuit prédéfini. Seules des analyses statistiques (lourdes en temps de calculs) de type Monte-Carlo, par exemple, permettent d’avoir un aperçu de ce type de chose. Objectif du stageNous souhaitons donc développer un outil qui puisse nous indiquer les paramètres technologiques clés, sur lesquels le concepteur doit porter son attention, afin d’améliorer la robustesse de l’ensemble du circuit étudié. Un des points durs sur lequel doit se focaliser ce travail concerne l’interaction qui existe entre la polarisation, les dimensions physiques et les paramètres technologiques des transistors CMOS. Profil recherchéAfin de poursuivre cette étude, nous recherchons un stagiaire ayant des connaissances et des compétences dans les domaines de l'électronique analogique, de la microélectronique, de la simulation de circuits électroniques, de l’algorithmie et de la programmation. Déroulement du stageLe stage se déroulerait en deux temps : une partie sera consacrée à l'état de l'art, d’une part, sur l'analyse de la robustesse des circuits électroniques, et plus particulièrement sur les sensibilités dans les circuits analogiques à transistors et, d’autre part, sur les outils de CAO disponible pour répondre à cette problématique [CHAMS, CAIRO+]. Puis, une partie du travail portera sur le développement d’une méthode d'analyse de sensibilités par rapport aux paramètres technologiques. Celle-ci sera ensuite programmée dans la troisième partie de ce stage. Ce stage s'adresse aux étudiants de M2. La durée est de 4 à 6 mois.
Encadrants :Farouk Vallette (farouk.vallette(at)upmc(.)fr) Sylvain Feruglio (sylvain.feruglio(at)upmc(.)fr) LIP6, Département SOC 01.44.27.84.05 |